長期以來，示波器一直是電氣工程師驗證USB2.0設計信號完整性的主要工具。在 Agilent InfiniiVision 4000 X 系列示波器上安裝新的 DSOX4USBSQ 信號質量測試選件后，您可以根據USB-IF標準來快速驗證 USB 的信號質量，不管它是集線器、主機還是器件。

　　嵌入式電子產品工程師一般不會進行正式的 USB-IF認證測試，因為非個人電腦(PC)產品通常不需要USB-IF 認證。但是，為了確保可靠性，嵌入式系統設計人員經常會根據USB-IF標準測試設計的物理層，以作為一項“實際驗證測試”，在投產前確保設計的信號質量符合標準。安捷倫新發布的 USB 2.0 信號質量測試選件提供了一個低價位的測試解決方案。

　　在傳統計算機/外設行業，工程師通常必須執行USB-IF物理層認證和測試。但是，小型公司可能無法承擔全套高性能測試設備的成本，因而面臨著預先一致性物理層測試挑戰。借助Agilent USB 2.0 信號質量測試選件和InfiniiVision 4000 X系列示波器，工程師可以獲得一個經濟的解決方案，以執行重要的信號質量物理層測試，確保最終產品可以通過 USB-IF 工作組的認證測試。

　　USB 2.0 信號質量測試選件采用的是官方USB-IF 算法，可生成HTML 合格/不合格報告，包括眼圖模板測試、抖動分析、數據包結束比特寬、信令速率、邊沿單調性和上升/下降時間。