SU5000肖特基式場發射掃描電子顯微鏡(8月推出)
SU5000搭載了全新的用戶界面和"EM Wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。另外"SU5000"的尋找視野功能"3D MultiFinder"更是獨一無二的。不但可大幅提高做樣速度，更使視野再現性得到大大提高。
TM3030Plus臺式電鏡(8月推出)
新型TM3030Plus配置了專門的高靈敏度低真空二次電子探測器可以觀察樣品表面的細節信息。在低真空模式下，TM3030Plus無需樣品處理就可獲取二次電子圖像和反射電子圖像。
NX2000 FIB-SEM(9月推出)
該儀器由日立高新及其全資子公司日立高新技術科學公司(即原SII NanoTechnology Inc.)聯合研制。目前還沒有關于該儀器的相關英文介紹資料發布。
AFM5000II掃描探針顯微鏡控制器(9月推出)
新AFM5000II SPM控制器標準配置了自動測量參數調整功能，以及新的圖形用戶界面(GUI)。這允許即使是沒有經驗的用戶，也可以獲得具有高重復性的數據，即使是對于以前沒有測定過的樣品。
PS3500DDII順序型ICP發射光譜儀(9月推出)
利用精密加工技術以及直接驅動掃描技術，PS3500DDII順序型ICP發射光譜儀的光譜分辨率從0.0045nm提升到了0.003nm。分析結果有著更高的重復性。
Chromaster5610質譜檢測器(9月推出)
“Chromaster5610 MS Detector”是小型四極桿質譜檢測器，操作和維護非常簡便，即使沒有質譜使用經驗的人也能非常簡便、快速的獲取質量分析數據，提高定性結果。
另外據財報顯示，日立高新全資子公司日立高新技術科學公司在6月份還推出了一款熱分析儀器新產品——STA7200RV熱重/差熱分析儀。
STA7200RV熱重/差熱分析儀(6月推出)
STA7200RV熱重/差熱分析儀實現了在高達1000°C的溫度下觀察和測量樣品，用戶可以觀察到高分子有機材料的整個分解過程。這樣高的溫度是由一個新設計的加熱爐與樣品觀察窗來實現的。
財報中還提到日立高新電鏡2014財年的年增長率預計在3-4%，受到日本政府前一財年補充預算的影響，高校及政府機構對于電鏡的需求量有所下降。在私營市場，由于對經濟衰退的擔憂，資本投資也逐漸放緩。然而在一些新的前沿領域，如新能源、新材料，需求在逐步回升。
分析儀器的年增長率在2-3%。其中液相色譜的需求有所增加，X射線熒光分析儀預計在新能源領域顆粒污染分析方面將有更高的需求。
