JW-K型氮吸附比表面及孔徑分布測試儀
    JW-K型集孔徑分布測定、BET及直接對比法比表面積測定于一體，JW-K是基于動態常壓氮吸附法實現介孔范圍的精確測定，是本公司在動態氮吸附儀領域的重大突破。
技術參數
原理方法：動態氮吸附法
功    能：直接對比法快速比表面測定
          BET比表面測定
　　　    Langmuir比表面測定
　　　    碳黑外比表面測定
　　　    等溫脫附曲線測定
　　　    BJH孔徑分布測定（包括微分及積分分布）
　　　    總孔體積和平均孔徑測定
測試氣體：高純氦氣（載氣）、高純氮氣
樣品數量：２～4個
測試速度：直接對比法，平均每個樣品5分鐘
　        BET法，平均每個樣品30分鐘
　        孔徑分布測定平均3～5小時
測試范圍：比表面　≥0.01M2/g , 無規定上限
　        孔徑　　２～100ｎｍ
測試精度：≤±2%
運行方式：半自動或全自動
主機尺寸：50×35×59（㎝）       
主機重量：33㎏
產品特點
 自主研發，國內外首創
 多重功能，可靈活轉換；
 氮分壓精確控制，國內領先；
 獨特的技術，保證了測試精度；
 先進的熱導池自動保護系統；
 高氮分壓區域測試信號的自動補償技術；
 軟件功能齊全、操作簡便，測試過程實時顯示，測試結果同步展現；
 隨機提供JW-樣品真空預處理機；