韓國Micro Pioneer X射線鍍層測厚儀XRF-2000<BR>韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優越,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：原子序 22-25，0.1-0.8μm  26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm  72-82，0.05-5μm 

X-射線管：油冷,超微細對焦<BR>高壓：0-50KV(程控)

準直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm<BR>自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
 

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