詳細資料： 
AEL/TEP系列電子密度分析天平
     系密度稱量兩用電子分析天平，它采用精密電子分析天平利用阿基米德定律，可對任何形狀不規則的固體物質同時進行重量和比重的分析測量，適用于工礦企業，科研機構，大專院校實驗室作質量比重的測量與分析。
AEL-200A
最大稱量：200g
分度值：0.1mg
重復性：0.1mg
線性：±0.2mg
稱盤尺寸：φ40/φ90mm
液合尺寸：120×120×70mm
防風罩有效高度：210mm
外型尺寸：220×400×360mm
TEP-500
最大稱量：500g
分度值：10mg
重復性：10mg
線性：±15mg
稱盤尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防風罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm
TEP-300
最大稱量：300g
分度值：1mg
重復性：1mg
線性：±1.5mg
稱盤尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防風罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm
TEP-200
最大稱量：200g
分度值：1mg
重復性：1mg
線性：±1.5mg
稱盤尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防風罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm
TEP-30
最大稱量：30g/300g
分度值：1mg/10mg
重復性：1mg/10mg
線性：±1.5mg/±15mg
稱盤尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防風罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm