ATR(衰減全反射技術)是紅外光譜發展較快的一個技術，也是目前最廣泛采樣技術，可以進行定性或定量測試，而基本不用樣品制備，這樣可以大大加快測試速 度、提高測試效率，從多次反射ATR到單次反射的ATR、從常溫測試到變溫測試（最高溫度可達300℃）、從常壓技術到高壓超臨界技術。
參數詳見
http://www.azup.com.cn/ProductsView.asp?id=56