相對其他探測器，Rigaku新的D/teX Ultra 250 silicon strip探測器減少了近50%的數據采集時間。通過增加孔徑有效面積提高了整體的計數率、探測器的覆蓋角，達到省時的效果。通過低能歧視和次要單色儀的獨一無二結合，該探測器獲得了非常好的能量分辨率、x射線熒光 (XRF)抑制。
Rigaku公司推出的D/teX Ultra 250 1D檢測器是公司持續努力減少x射線衍射(XRD)數據采集時間的一個成果，大幅提高了儀器的通量等性能。新silicon strip探測器可以用于Rigaku頂級的，以創新指導軟件、自動校準、CBO光學聞名的Smartlab衍射系統。D/teX Ultra 250相對于之前的探測器有很多改進，包括一個較小的像素尺寸 (0.075 mm versus 0.10 mm)提高了分辨率，增加長度提高了計數率和覆蓋角，一個獨特的XRF抑制配置使得能量分辨率更加優秀。
