ATR法不僅用于驗證分析，還廣泛用于異物分析。對ATR法掃描獲取的光譜和用透射法掃描獲取的光譜進行比較可以發現，因為原理不同，縱軸及橫軸的數值有一定差別。所以，將ATR法的光譜與透射法的光譜或數據庫進行比較時，通過對ATR光譜進行適當的校正，可取得更高精度的結果。本文向您介紹通過高級ATR校正，對ATR光譜和透射光譜進行近似處理的示例。經高級ATR校正可使ATR光譜與透射光譜相似。并且，如果通過透射法數據庫檢索ATR譜圖，可獲取高精度的檢索結果。

　　島津高級ATR校正功能，可對上述縱軸和橫軸變化進行校正。該校正可同時進行以下3種校正：

　　1. 受波長影響的紅外光穿透深度帶來的峰強度變化。

　　2. 由折射率的異常分散引起的低波數峰偏移。

　　3. 由偏光特性引起的來自朗伯-比爾定律的偏差。

　　在BCEIA2013上展出的島津IRTracer-100