近日，日本電子株式會社（JEOL）全球同步發布了終極分辨率的新一代球差校正透射電鏡JEM-ARM300F,把商業化的透射電鏡推向了一個新極限。
2009年，JEOL推出了最高加速電壓200kV的球差校正透射電鏡JEM-ARM200F,在全世界大獲成功，把人類認識微觀世界的能力向前推進了一大步。隨著球差校正透射電鏡在全世界的普及和市場需求的不斷變化，JEOL總結了JEM-ARM200F的成功經驗，并開發出了自己的12極球差校正器，加裝在新一代球差校正透射電鏡JEM-ARM300F上。不但大幅度提高分辨率，而且對樣品的分析能力、原位觀察能力、球差校正的操作方便性等都有飛躍性的提升。
JEM-ARM300F標配日本電子的12極球差校正器、高亮度冷場發射電子槍，TEM的保證分辨率為0.05nm, STEM HAADF的保證分辨率為0.063nm.2014年5月開始正式接受訂單。
詳細信息請咨詢日本電子株式會社在中國的子公司捷歐路（北京）科貿有限公司及其各地分支機構。
