TSI公司將于會上展出TSI 3910 型NanoScan SMPS 打開納米顆粒粒徑常規測量的大門。這一革命性的粒徑譜儀將TSI 公司的SMPSTM 粒徑譜儀集成在約一個籃球大小的便攜箱內。容易使用，重量輕，電池供電等優點使NanoScan SMPS 讓研究人員多點采集納米顆粒粒徑分布數據成為可能。由TSI 核心技術中衍生而來，NanoScan SMPS 是一個創新的，低成本的實時納米粒徑測量的有效解決方案。
3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。
TSI 的SMPS™ 粒徑譜儀被廣泛用作測量空氣中的顆粒粒徑分布的標準。此系統還常用于懸浮在液體中的納米顆粒粒徑的精確測量。美國國家標準與技術研究院(NIST) 使用TSI DMA 篩分直徑60 nm 和100 nm 的標準粒徑作為參考標準。SMPS 粒徑譜儀的粒徑測量是一種直接測量粒子數濃度的非連續技術，而無需假定顆粒的形狀來得到粒徑分布。該方法不依賴于粒子或液體的折射率，并具有絕對的粒徑精度和高測量重復性。TSI 具有超過30 年粒徑譜儀的歷史，3938 型是第三代的掃描電遷移粒徑譜儀，是研究人員可以依賴的儀器。
TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設計的經驗，本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產品是廣大環境研究機構和環境監測部門進行顆粒物監測分析和源解析的最佳儀器。
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