可以進行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量，可得出參數(shù)：方塊電阻、電阻率、霍爾系數(shù)、霍爾遷移率、載流子濃度和導(dǎo)電類型，可繪制以上參數(shù)隨溫度或磁場的變化曲線，以及I-V特性——不同磁場和不同溫度下的I-V特性曲線，R-H特性——固定溫度，電阻隨著磁場變化的特性曲線，R-T特性——固定磁場，電阻隨著溫度變化的特性曲線。

產(chǎn)品功能：

1·電阻率、霍爾系數(shù)及霍爾遷移率測試遵從美國材料與試驗協(xié)會ASTM-F76標(biāo)準(zhǔn)

2·電阻測量范圍寬：100nΩ（低電阻選件）～ 100GΩ（高阻系統(tǒng)）；

3·使用插入式樣品卡，樣品安裝方便，同時提供四探針卡，免去制作電極的麻煩

4·標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)一次可以同時測量2個樣品，增加選件可同時測量4個樣品；

5·測量和計算過程由軟件自動執(zhí)行，3分鐘即可得到一個霍爾效應(yīng)數(shù)據(jù)；

6·提供長時間高穩(wěn)定性的磁場，24小時穩(wěn)定性<±0.5G，并且磁場能夠平滑過零

7·電磁鐵電源內(nèi)置高斯計，磁場從0到1kG只需20S即可控制在0.1G以內(nèi)；

8·選擇溫度選件，可以進行不同溫度下的霍爾效應(yīng)和電阻的測量。