近日帕納科推出了Epsilon 3X和Epsilon 3XLE臺(tái)式X射線熒光光譜儀。
Epsilon 3X系列是在基于第一代Epsilon 3 XRF的成功經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，采用了最新的先進(jìn)的X射線源及檢測(cè)技術(shù)，針對(duì)周期表中的元素分析均可提供可靠的分析結(jié)果。
Epsilon 3XLE
Epsilon 3X配備50kV激發(fā)電壓的X射線管和最新的高分辨率硅漂移探測(cè)器，能夠分析從Na到Am的元素。同時(shí)，Epsilon 3XLE配置了更強(qiáng)大的SDDUltra硅漂移探測(cè)器，使得像碳，氮和氧等超輕元素的分析成為可能。對(duì)于X射線熒光分析的基本元素可以在從ppm至100%的濃度范圍內(nèi)，并且基本不需要樣品制備。
先進(jìn)的光譜處理方法及算法，可提供高度精確、準(zhǔn)確，以及完全可追溯的數(shù)據(jù)。通過(guò)全球服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，客戶可以更好的獲得帕納科的支持和專業(yè)服務(wù)。
帕納科X射線光譜產(chǎn)品營(yíng)銷經(jīng)理Simon Milner評(píng)論說(shuō)：“Epsilon 3X系列采用最新的激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)，提供終極的輕元素分析性能，有時(shí)甚至超越分析性能更強(qiáng)大的光譜儀。這些物美價(jià)廉的分析工具，廣泛適用于各個(gè)行業(yè)，如水泥生產(chǎn)，選礦或聚合物生產(chǎn)等。”
